非接觸式三維形貌儀

簡要描述：三維形貌儀通過集成一對單點，非接觸式，納米分辨率的彩色共聚焦傳感器與高速，納米編碼的X/Y/Z協(xié)調(diào)運動，QuickPRO-CUBE™捕獲同步的前，后和基準表面3D點云地形，用于托盤中的單鏡頭或微鏡頭的幾何表征。

產(chǎn)品型號：QuickPRO-CUBE
廠商性質(zhì)：代理商
產(chǎn)品資料：
更新時間：2024-11-26
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三維形貌儀是一種用于測量三維表面形貌、輪廓和曲面特征的儀器。它可以通過激光或白光掃描技術(shù)獲取被測物體表面的三維形貌信息，并生成三維模型或曲面圖。三維形貌儀在工業(yè)制造、質(zhì)量控制、產(chǎn)品設(shè)計、醫(yī)療等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用，能夠提供高精度的表面形貌數(shù)據(jù)，幫助用戶進行產(chǎn)品設(shè)計、檢測和分析。常見的三維形貌儀包括激光三維掃描儀、白光干涉儀等。

三維形貌儀通過集成一對單點，非接觸式，納米分辨率的彩色共聚焦傳感器與高速，納米編碼的X/Y/Z協(xié)調(diào)運動，QuickPRO-CUBE™捕獲同步的前，后和基準表面3D點云地形，用于托盤中的單鏡頭或微鏡頭的幾何表征。形式不變運動架構(gòu)允許測量旋轉(zhuǎn)對稱和更復雜的非軸對稱或自由形狀，最大測量直徑為50mm(高達75mm外徑)。根據(jù)鏡頭直徑和3D點云采樣密度的不同，每個鏡頭每個表面的總測量時間從30秒到240秒不等。

測量的幾何參數(shù)包括：

· 相對于定義的集中度基準的前后曲面頂點偏移量

· 相對于定義的傾斜基準的前后表面楔角

· 前后總厚度變化（TTV）和中心厚度（CT）

· 前后表面凹陷/形狀誤差

三維形貌儀系統(tǒng)特性：

· 緊湊，臺式機組與環(huán)境外殼

· 雙單點、非接觸、可見光、彩色共聚焦傳感器，8kHz組合測量速率

· 震動不敏感和尺寸穩(wěn)定的Invar計量框架

· 納米編碼X/Y/Z協(xié)調(diào)運動與磁性直線電機和交叉滾子軸承快速光柵或螺旋掃描超過50mm (X)， 50mm (Y)， 50mm (Z)

· 自定義心夾具，精密快速連接，快速裝卸

· 用于單光學元件（最大外徑75mm）和微透鏡托盤的固定裝置